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明策科技自成立至今,始終致力于為先進(jìn)材料生產(chǎn)過(guò)程、環(huán)保材料檢測(cè)、計(jì)量校準(zhǔn)、高速運(yùn)動(dòng)研究等行業(yè)提供專(zhuān)業(yè)的測(cè)試解決方案,引進(jìn)先進(jìn)的儀器設(shè)備。方案涉及紅外測(cè)溫、高清成像、材料研究、標(biāo)定校準(zhǔn)、系統(tǒng)集成。原理涉及光學(xué)近、中、遠(yuǎn)紅外波段、可見(jiàn)光波段、太赫茲波段、激光波段等。

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上海光電測(cè)試系統(tǒng)性能特點(diǎn) 客戶(hù)至上 上海明策供應(yīng)

2025-06-15 03:03:46

 ST測(cè)試系統(tǒng)計(jì)算機(jī)化測(cè)試系統(tǒng),半自動(dòng)測(cè)試短波紅外相機(jī)的重要參數(shù);1)ModeI:分辨率,MRC(蕞小可分辨對(duì)比度),MTF(調(diào)至傳遞函數(shù)),Distortion(畸變),F(xiàn)OV(視場(chǎng)),靈敏度,SNR(信噪比),NEI(噪聲等效輸入),F(xiàn)PN(固定圖形噪聲),non-uniformity(非均勻性)等;2)ModeII:MRTD(蕞小可分辨溫差,MDTD(蕞小可探測(cè)溫差),MTF(調(diào)至傳遞函數(shù)),NETD(噪聲等效溫差),F(xiàn)PN(固定圖形噪聲)等;3)ModeIII:(MeanDetectivity(平均探測(cè)率),NoiseEquivalentIrradiance(噪聲等效輻亮度),噪聲,動(dòng)態(tài)范圍等。明策光電測(cè)試系統(tǒng),提升鐘表制造業(yè)走時(shí)精確度。上海光電測(cè)試系統(tǒng)性能特點(diǎn)

TAIM熱瞄準(zhǔn)鏡和熱像儀夾測(cè)試系統(tǒng)是DT系統(tǒng)的一個(gè)特殊版本,為測(cè)試典型的熱瞄準(zhǔn)鏡或熱像儀夾而優(yōu)化,可以快速、多功能和準(zhǔn)確地測(cè)試。TAIM由DT120測(cè)試系統(tǒng)(用作圖像投影模塊和圖像分析模塊),附加一組模塊:用于瞄準(zhǔn)具測(cè)試的Picatinny導(dǎo)軌,兩個(gè)HEC相機(jī)用于捕捉圖像,AHEC適配環(huán)固定HEC相機(jī)的位置,YNAS10平臺(tái)可以調(diào)整相機(jī)與被測(cè)樣品之間的夾角,DPM屈光度量度計(jì),AT720光學(xué)平臺(tái),可選配其他分析軟件和HEC相機(jī)和可選DICAN距離調(diào)整裝置。上海德國(guó)進(jìn)口光電測(cè)試系統(tǒng)INFRAMET SIM 熱成像光電測(cè)試系 統(tǒng),精確把控汽車(chē)制造關(guān)鍵環(huán)節(jié)。

MS系列系統(tǒng)是Inframet主要測(cè)試系統(tǒng),可測(cè)量多種紅外整機(jī)系統(tǒng):熱像儀,可見(jiàn)光-近紅外相機(jī),短波紅外相機(jī)、激光測(cè)距機(jī)和多傳感器測(cè)試系統(tǒng)等,進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試和軸對(duì)準(zhǔn)的測(cè)試。測(cè)試功能1.不同視場(chǎng)適用波段:可見(jiàn)光,近紅外,短波紅外,中波紅外和長(zhǎng)波紅外;2.可測(cè)量多種紅外整機(jī)系統(tǒng):熱像儀,可見(jiàn)光-近紅外相機(jī),短波紅外相機(jī)、激光測(cè)距機(jī)和多傳感器測(cè)試系統(tǒng)等;

MS多波段整機(jī)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量不同系統(tǒng)的原理如下。測(cè)試熱像儀:圖像投影儀投射圖像到中波/長(zhǎng)波范圍熱像儀,由計(jì)算機(jī)系統(tǒng)生成的圖像分析被檢測(cè)熱像儀。高精度的離軸反射式CDT平行光管,TCB差分黑體,以及一組紅外靶標(biāo)用于投影。測(cè)試可見(jiàn)光/NIR相機(jī):可見(jiàn)光/NIR投影系統(tǒng)與圖像分析計(jì)算機(jī)系統(tǒng)相結(jié)合來(lái)測(cè)量電視相機(jī)。包括CDT反射式平行光管,可見(jiàn)光/NIR光源,和一組可見(jiàn)光靶標(biāo);

FUT靶標(biāo)為棋盤(pán)型靶標(biāo),采用大面積、均勻溫度的輻射源,經(jīng)表面加工后在高發(fā)射率背景下實(shí)現(xiàn)低發(fā)射率。FUT靶標(biāo)尺寸較大,能夠完全填充被測(cè)融合成像系統(tǒng)的視野。利用熱像儀和可見(jiàn)光/近紅外成像傳感器對(duì)FUT靶標(biāo)進(jìn)行圖像采集,為有效的圖像融合提供了必要的數(shù)據(jù)。FUT靶標(biāo)是一種均勻加熱的靶標(biāo),通常不能夠進(jìn)行調(diào)節(jié)高溫度。操作較為簡(jiǎn)單,插上電源加熱十幾分鐘穩(wěn)定后就可進(jìn)行使用。

測(cè)試功能:FUT靶標(biāo)可以用于以下測(cè)試:?對(duì)準(zhǔn)誤差(熱通道光軸相對(duì)于可見(jiàn)光通道光軸的角度)?旋轉(zhuǎn)誤差(熱通道圖像與可見(jiàn)通道圖像之間的角度)?熱成像通道圖像相對(duì)于可見(jiàn)成像通道圖像的二維空間位移圖(與另一通道中的同一像素相比,像素的位移量和位移方向的信息)?熱像儀分辨率測(cè)試 光電測(cè)試系統(tǒng),保障文物修復(fù)科學(xué)精細(xì)。

MTB系列黑體是精密的面源黑體,旨在模擬中溫目標(biāo)。使用一個(gè)薄的面加熱元件來(lái)控制散熱器溫度。黑體散熱器的***溫度可以調(diào)節(jié)在約50攝氏度到550攝氏度之間。發(fā)射器面積可以從50x50mm到500x500mm,具體取決于型號(hào)。應(yīng)用MTB黑體可用于一系列可能的應(yīng)用:1、在中溫范圍內(nèi)測(cè)量熱像儀的精度(已知溫度的面源)。2、監(jiān)控系統(tǒng)SWIR成像儀3、用于測(cè)試SWIR/MWIRFPAs的系統(tǒng)

至高溫度:典型的至高溫度為550℃。如果不需要這樣的溫度,則**高溫度可以降低到350℃,并且提供更好的熱均勻性。 光電技術(shù),應(yīng)用于鐵路維護(hù),保障行車(chē)**。上海光電測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)

光電系統(tǒng)應(yīng)用于物流,提升包裹分揀準(zhǔn)確性。上海光電測(cè)試系統(tǒng)性能特點(diǎn)

NVS夜視設(shè)備多功能測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)模塊化的測(cè)試系統(tǒng),可測(cè)試長(zhǎng)程夜視瞄準(zhǔn)設(shè)備,同時(shí)支持測(cè)試短程夜視鏡及雙目夜視鏡。因此NVS測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)多功能測(cè)試系統(tǒng)。NVS測(cè)試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì),包括一組可切換的透射式光管、可移動(dòng)的光源和一組靶標(biāo)等模塊。NVS測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試過(guò)程是基于MIL系列標(biāo)準(zhǔn)的建議。NVS測(cè)量系統(tǒng)投影一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)靶標(biāo)的圖像到水平固定的被測(cè)夜視儀。通過(guò)調(diào)節(jié)兩個(gè)旋鈕,操作者可以控制透射到被測(cè)量夜視儀光的強(qiáng)度和靶標(biāo)的類(lèi)型。被測(cè)量器件生成一個(gè)畸變的標(biāo)準(zhǔn)靶標(biāo)的圖像。通過(guò)人眼觀察或者借助測(cè)量工具如亮度計(jì)來(lái)評(píng)估這個(gè)畸變的圖像,得到被測(cè)量器件的重要參數(shù)。上海光電測(cè)試系統(tǒng)性能特點(diǎn)

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