BLIQ黑體作為T(mén)CB系列特殊版本，可以彌補(bǔ)TCB其他型號(hào)的不足：大尺寸面源，需要降溫到零下-40℃的溫度。BLIQ也有一些限制條件：需要連接BLIQ黑體的**罩（Inframet可提供）。覆蓋罩須裝充有干燥的氮?dú)?，以保護(hù)黑體發(fā)射器免受結(jié)霜或濕氣冷凝。用戶需要提供干燥的氮?dú)狻?*罩不能有任何漏洞以免潮濕熱氣體進(jìn)入罩內(nèi)。測(cè)試成像儀的光學(xué)鏡頭必須完全覆蓋在罩中的輸入孔中。罩長(zhǎng)必須至少等于黑體發(fā)射面的大小。這意味著被測(cè)試的成像儀不能位于距BLIQ黑體發(fā)射器很短的距離。專業(yè)校準(zhǔn)，Inframet DTR短焦熱像儀測(cè)試系統(tǒng)熱成像更出色，基數(shù)參數(shù)優(yōu)化，**升級(jí)！上海熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)供應(yīng)

SIM簡(jiǎn)易熱像儀測(cè)試系統(tǒng)是一款經(jīng)濟(jì)、實(shí)用的手動(dòng)切換靶標(biāo)的圖像投影系統(tǒng)，由5個(gè)模塊組成：標(biāo)準(zhǔn)品質(zhì)的CDT離軸反射式光管（不適用于長(zhǎng)程熱像儀），NSB40黑體，CNSB控制器，TP2靶標(biāo)槽和一組紅外靶標(biāo)。SIM一般投射兩種類型的目標(biāo)的圖像：a)十字靶標(biāo)的圖像(可提供兩種尺寸)，b)USAF951年靶標(biāo)的圖像。CNSB控制器可控制NSB黑體的溫度，從而調(diào)節(jié)投影圖像的熱對(duì)比度。由于NSB40中不是一個(gè)穩(wěn)定的黑體，用戶可以調(diào)節(jié)溫度，但溫度不穩(wěn)定，且不能準(zhǔn)確測(cè)量(只提供相對(duì)指示)。上海熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)供應(yīng)科技引航， INFRAMET SIM 熱成像光電測(cè)試系統(tǒng)，讓監(jiān)控更精確高效！

Inframet生產(chǎn)的離軸反射式平行光管采用垂直結(jié)構(gòu)，平行光管的焦平面位于反射鏡垂直方向的上方。這種類型的平行光管實(shí)現(xiàn)了測(cè)試系統(tǒng)的簡(jiǎn)單化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)（只需較小、較窄的光學(xué)平臺(tái)）。而且，垂直結(jié)構(gòu)的平行光管更為先進(jìn)之處在于系統(tǒng)用于熱像儀的測(cè)試時(shí)，垂直結(jié)構(gòu)的黑體溫度的均勻性要優(yōu)于使用相同模塊的水平結(jié)構(gòu)。

Inframet使用三個(gè)等級(jí)的離軸反射鏡面：?SR（標(biāo)準(zhǔn)分辨率）-制造精度PV不低于λ/2在λ=630nm。?HR（高分辨率）-制造精度PV不低于λ/6在λ=630nm（典型λ/10）。?UR（超高分辨率）-制造精度PV不低于λ/10在λ=630nm。?SQ（極高分辨率）-制造精度PV不低于λ/14在λ=630nm。Inframet采用典型的保護(hù)鋁鍍膜作為反射鏡的鍍膜材料，如果在可見(jiàn)光-近紅外波段達(dá)到均勻的反射率，則保護(hù)鋁鍍膜可以作為次反射平面鏡或者兩面反射鏡的鍍膜材料。如果在遠(yuǎn)紅外波段需要達(dá)到非常高的反射率則需要使用保護(hù)金作為輔助鏡（或者兩個(gè)反射鏡）的材料。我們可以根據(jù)您所需口徑和焦距精度等提供定制化平行光管，滿足您的需求。

短波紅外相機(jī)與TV/LLLTV相機(jī)計(jì)算機(jī)化測(cè)試系統(tǒng)，

半自動(dòng)測(cè)試短波紅外相機(jī)的重要參數(shù)；1）ModeI：分辨率，MRC（蕞小可分辨對(duì)比度），MTF（調(diào)至傳遞函數(shù)），Distortion（畸變），F(xiàn)OV（視場(chǎng)），靈敏度，SNR（信噪比），NEI（噪聲等效輸入），F(xiàn)PN（固定圖形噪聲），non-uniformity（非均勻性）等；2）ModeII：MRTD（蕞小可分辨溫差，MDTD（蕞小可探測(cè)溫差），MTF（調(diào)至傳遞函數(shù)），NETD（噪聲等效溫差），F(xiàn)PN（固定圖形噪聲）等；3）ModeIII：（MeanDetectivity（平均探測(cè)率），NoiseEquivalentIrradiance（噪聲等效輻亮度），噪聲，動(dòng)態(tài)范圍等。 食品加工熱成像檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)，明策系統(tǒng)保障生產(chǎn)環(huán)節(jié)的溫度控制標(biāo)準(zhǔn)。

JT400軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)外觀圖Inframet設(shè)計(jì)生產(chǎn)的用于測(cè)試多傳感器監(jiān)控系統(tǒng)的MS系列測(cè)試系統(tǒng)不僅支持這些監(jiān)控系統(tǒng)的擴(kuò)展性測(cè)試，也支持軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試。然而，MS系列測(cè)試系統(tǒng)是相對(duì)昂貴鎬端的測(cè)試系統(tǒng)。

JT多傳感器軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)是相對(duì)經(jīng)濟(jì)的系統(tǒng)，用于**的軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試以及光電多傳感器監(jiān)控系統(tǒng)的基本參數(shù)測(cè)試。測(cè)試功能：1.不同視場(chǎng)的熱像儀的軸對(duì)準(zhǔn)；2.不同鏡頭焦距的可見(jiàn)光-近紅外相機(jī)的軸對(duì)準(zhǔn)；3.可見(jiàn)光-近紅外相機(jī)與熱像儀之間的軸對(duì)準(zhǔn)；4.激光測(cè)距機(jī)與可見(jiàn)光-近紅外相機(jī)之間的軸對(duì)準(zhǔn)；5.激光測(cè)距機(jī)與熱像儀之間的軸對(duì)準(zhǔn)；6.激光指示器與可見(jiàn)光/近紅外相機(jī)以及熱像儀之間的軸對(duì)準(zhǔn)；7.可見(jiàn)光/近紅外相機(jī)的分辨率/靈敏度；8.熱像儀的分辨率；9.激光測(cè)距機(jī)的發(fā)散角；10.參考光軸與參考機(jī)械軸(平面)的對(duì)準(zhǔn)誤差。 INFRAMET SIM 熱成像光電測(cè)試系統(tǒng)，精確熱成像，基數(shù)參數(shù)智能調(diào)整，守護(hù)**，從細(xì)節(jié)開(kāi)始！上海熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)供應(yīng)

明策電子熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出與報(bào)告生成，簡(jiǎn)化校準(zhǔn)結(jié)果管理。上海熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)供應(yīng)

靶標(biāo)是用于測(cè)試光電成像系統(tǒng)時(shí)創(chuàng)建參考圖像的模塊。Inframet提供的靶標(biāo)可分為兩類:1)無(wú)源靶標(biāo)，2)有源靶標(biāo)。無(wú)源靶標(biāo)需要由黑體或標(biāo)定光源產(chǎn)生均勻光束照射，生成參考圖像模式的圖像。這些靶標(biāo)通常是大型測(cè)試系統(tǒng)位于平行光管焦平面的小模塊。無(wú)源靶標(biāo)的工作不需要電力供應(yīng)。這些標(biāo)準(zhǔn)的小尺寸靶標(biāo)作為Inframet制造的大型模塊化測(cè)試系統(tǒng)(如DT,TAIM,TVT,MS)的一部分。有源靶標(biāo)是通過(guò)其自身的熱輻射或由人造光源發(fā)出的反射光創(chuàng)建參考圖案。這些目標(biāo)通常是大型的單獨(dú)模塊（尺寸從500mm到3000mm），需要電才能正常工作。被測(cè)光電成像儀可直接看到有源靶標(biāo)。這些靶標(biāo)用于測(cè)試融合成像儀的融合算法或作為熱像儀/VIS-NIR相機(jī)分辨率靶標(biāo)的流行解決方案。FUT系列靶標(biāo)是有源靶標(biāo)，通常用于測(cè)試融合成像系統(tǒng)或熱像儀。上海熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)供應(yīng)