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|列兵
干涉儀是根據(jù)光的干涉原理制成的一種光學(xué)儀器,主要是測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的儀器,根據(jù)光束多少可以將干涉儀分為雙光束干涉儀和多光束干涉儀兩大類。
干涉儀遇到兩束光,遇到任何變化會(huì)干涉條紋會(huì)非常靈敏地的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過(guò)的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起,所以通過(guò)干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長(zhǎng)度或折射率的微小改變量,從而測(cè)得與此有關(guān)的其他物理量。干涉儀采用光、機(jī)、電、算結(jié)合的系統(tǒng)軟件,可打印檢測(cè)報(bào)告,具有性能卓越、操作簡(jiǎn)便、測(cè)試結(jié)果直觀的特征,還同時(shí)測(cè)量線性定位誤差、直線度誤差(雙軸)、偏擺角、俯仰角和滾動(dòng)角。
干涉儀可用于對(duì)長(zhǎng)度的精密測(cè)量、折射率的測(cè)定、波長(zhǎng)的測(cè)量、檢驗(yàn)光學(xué)元件的質(zhì)量,干涉儀適用于工廠、研究所和高校等對(duì)光學(xué)元件的高精度檢測(cè)。
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