SKYSCAN1272SampleDimensionsMax.samplesizeforhighestresolution(0.4?m):2mm(insideFOV)/5mm(truncated)Largestrepresentativesamplediameterforvarioussamplesat100kVGeomaterials:20mmRocksamplesupto10mmgivegoodresults.Metals:5mmElectronics:10–20mmMetalparts(highdensity)requireverylongmeasuringtimesifadecentresolutionisneededLow-densematerials:40mmScannedat50kVPixelsize:0.85?mObservationoftheindividualfibersColor-codedbytheorientationangleDifferentfiberorientationclosetothesurfacevs.insidethebulkLinkedtomechanicalstrength很大程度上保護(hù)樣品：無(wú)需制備樣品，無(wú)損三維重現(xiàn)。上海三維結(jié)構(gòu)查看顯微CT哪里好

技術(shù)規(guī)范：X射線(xiàn)源：20-100kV，10W，焦點(diǎn)尺寸＜5μm@4WX射線(xiàn)探測(cè)器：1600萬(wàn)像素（4904×3280像素）或1100萬(wàn)像素（4032×2688像素）14位冷卻式CCD光纖連接至閃爍體標(biāo)稱(chēng)分辨率（放大率下樣品的像素）：1600萬(wàn)像素探測(cè)器＜0.35um；1100萬(wàn)像素探測(cè)器＜0.45um，重建容積圖（單次掃描）：1600萬(wàn)像素探測(cè)器，14456×14456×2630像素1100萬(wàn)像素探測(cè)器，11840×11840×2150像素掃描空間：0-直徑75mm，長(zhǎng)70mm輻射**：在儀器表面的任何一點(diǎn)上＜1uSv/h外形尺寸：1160（寬）×520（深）×330（高）毫米（帶樣品切換器高440毫米）重量：150千克，不含包裝電源：100-240V/50-60Hz。上海三維結(jié)構(gòu)查看顯微CT哪里好檢查由殘留粉末形成的內(nèi)部空隙 驗(yàn)證內(nèi)部和外部尺寸 直接與CAD模型作對(duì)比 分析由單一或多種材料構(gòu)成的組件。

巖石圈是地球外層具有彈性的堅(jiān)硬巖石，平均厚度約達(dá)100公里。它是萬(wàn)物賴(lài)以生存和發(fā)展的基礎(chǔ)環(huán)境，同時(shí)，人類(lèi)的各種活動(dòng)又不斷改變著這個(gè)環(huán)境。而巖石作為當(dāng)中基本的組成物質(zhì)，對(duì)其物理、力學(xué)等性質(zhì)的認(rèn)知是一個(gè)漫長(zhǎng)、重要的過(guò)程。250萬(wàn)年前，人類(lèi)就開(kāi)始了利用巖石的歷程。從初的石刀，石斧到裝飾、建材，人類(lèi)的生活已與巖石密不可分。通常，組成巖石的礦物顆粒都很小，人們靠肉眼很難準(zhǔn)確地辨認(rèn)里面的礦物并確定巖石的結(jié)構(gòu)，所以很長(zhǎng)時(shí)間以來(lái)，人們對(duì)巖石的認(rèn)識(shí)只停留在表面階段。直到1867年，歐洲科學(xué)家把偏光顯微鏡用于鑒定巖石薄片，才為巖石學(xué)研究開(kāi)拓了新的眼界，這也成為巖石學(xué)發(fā)展史上的一個(gè)轉(zhuǎn)折點(diǎn)。

PorositydeterminationinSandstoneScannedat1?mvoxelsize2mmmicroplug80kV,3h30scantimePoresandcracksCoatingthicknessDistributionofactiveingredientsThicknesshomogeneityofthecoatingisimportantforefficientdrugreleaseNon-destructiveimagingallowsforamulti-scaleapproachEntirepill?singlepelletsPush-buttonoperationforQCofsyringes10?mvoxelsizeFast,easytousepush-buttonCTwithSKYSCAN1275Packaging–sealqualityEvaluationofmanufacturingprocessofthesecomponentsReferenceandproducedpartscanbescannedandcompared所有測(cè)量支持手動(dòng)設(shè)置,確保為難度較大的樣本設(shè)置參數(shù)。在分辨率低于5μm的情況下,掃描時(shí)間也在15分鐘以?xún)?nèi)。

需按下啟動(dòng)按鈕即可啟動(dòng)μCT快速桌面解決方案！超高速度、圖像SKYSCAN1275專(zhuān)為快速掃描多種樣品而設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)采用一個(gè)功能強(qiáng)大的廣角X射線(xiàn)源（100kV）和高效的大型平板探測(cè)器，可以輕松實(shí)現(xiàn)大尺寸樣品掃描。由于X射線(xiàn)源到探測(cè)器的距離較短以及快速的探測(cè)器讀出能力，SKYSCAN1275可以顯著提高工作效率——從幾小時(shí)縮短至幾分鐘，并保證不降低圖像質(zhì)量。SKYSCAN1275如此迅速，甚至可以實(shí)現(xiàn)四維動(dòng)態(tài)成像。Push-Button-CT?讓操作變得極為簡(jiǎn)單您只需選擇手動(dòng)或自動(dòng)插入一個(gè)樣品，就可以自動(dòng)獲得完整的三維容積，無(wú)需其他操作。Push-Button-CT包含了所有工作流程：自動(dòng)樣品尺寸檢測(cè)、樣品掃描、三維重建以及三維可視化。選配自動(dòng)進(jìn)樣器，SKYSCAN1275可以全天候工作。靈活易用、功能除了Push-Button-CT模式，SKYSCAN1275還可以提供有經(jīng)驗(yàn)用戶(hù)所期待的μCT系統(tǒng)功能。所有測(cè)量都支持手動(dòng)設(shè)置，從而確保為難度較大的樣本設(shè)置參數(shù)。即使在分辨率低于5μm的情況下，典型掃描時(shí)間也在15分鐘以?xún)?nèi)。無(wú)隱性成本：一款免維護(hù)的桌面μCT封閉式X射線(xiàn)管支持全天候工作，不存在因更換破損的燈絲而停機(jī)的情況，為您節(jié)約大量時(shí)間和成本。由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測(cè)器盡可能地靠近光源，SKYSCAN1272的掃描速度比探測(cè)器位置固定的系統(tǒng)可快5倍。重慶物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)顯微CT推薦咨詢(xún)

通過(guò)使用加熱臺(tái)和冷卻臺(tái)，可在非環(huán)境條件下檢測(cè)樣品，從而評(píng)估溫度對(duì)樣品微觀(guān)結(jié)構(gòu)的影響。上海三維結(jié)構(gòu)查看顯微CT哪里好

特點(diǎn)超高速度、質(zhì)量圖像SKYSCAN1275專(zhuān)為快速掃描多種樣品而設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)采用一個(gè)功能強(qiáng)大的廣角X射線(xiàn)源(100kV)和高效的大型平板探測(cè)器,可以輕松實(shí)現(xiàn)大尺寸樣品掃描。由于X射線(xiàn)源到探測(cè)器的距離較短以及快速的探測(cè)器讀出能力,SKYSCAN1275可以明顯提高工作效率——從幾小時(shí)縮短至幾分鐘,并保證不降低圖像質(zhì)量。SKYSCAN1275如此迅速,甚至可以實(shí)現(xiàn)四維動(dòng)態(tài)成像。Push-Button-CT?讓操作變得極為簡(jiǎn)單您只需選擇手動(dòng)或自動(dòng)插入一個(gè)樣品,就可以自動(dòng)獲得完整的三維容積,無(wú)需其他操作。Push-Button-CT包含了所有工作流程:自動(dòng)樣品尺寸檢測(cè)、樣品掃描、三維重建以及三維可視化。選配自動(dòng)進(jìn)樣器,SKYSCAN1275可以全天候工作。靈活易用、功能各方面除了Push-Button-CT模式,SKYSCAN1275還可以提供有經(jīng)驗(yàn)用戶(hù)所期待的μCT系統(tǒng)功能。上海三維結(jié)構(gòu)查看顯微CT哪里好