熱電阻溫度計校準(zhǔn)
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校準(zhǔn)前準(zhǔn)備
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標(biāo)準(zhǔn)器：采用高精度的標(biāo)準(zhǔn)電阻箱或已知準(zhǔn)確阻值 - 溫度關(guān)系的標(biāo)準(zhǔn)熱電阻。
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測量儀器：配備高精度的電阻測量儀，如直流電橋，其測量精度應(yīng)滿足校準(zhǔn)要求。
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恒溫設(shè)備：使用恒溫槽或恒溫箱，提供穩(wěn)定的溫度環(huán)境。
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校準(zhǔn)步驟
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外觀檢查：查看熱電阻外觀有無損壞、引線是否完好。
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阻值測量：在室溫下，用電阻測量儀測量熱電阻的阻值，記錄初始值。
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校準(zhǔn)點選擇：依據(jù)熱電阻的測量范圍，選取校準(zhǔn)點，如 PT100 熱電阻可選擇 0℃、50℃、100℃等點。
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校準(zhǔn)過程：將熱電阻放入恒溫設(shè)備，設(shè)置溫度到校準(zhǔn)點，待溫度穩(wěn)定后，測量熱電阻在該溫度下的阻值，與標(biāo)準(zhǔn)阻值對比，計算誤差。
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紅外線測溫儀的校準(zhǔn)方法主要有比較法
比較法
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準(zhǔn)備工作
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標(biāo)準(zhǔn)溫度計：選取經(jīng)過校準(zhǔn)且精度更高的標(biāo)準(zhǔn)溫度計，如鉑電阻溫度計，作為比對標(biāo)準(zhǔn)。
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穩(wěn)定環(huán)境：選擇溫度穩(wěn)定、無強氣流、無陽光直射的環(huán)境，避免環(huán)境因素對測量結(jié)果的干擾。
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校準(zhǔn)步驟
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同步測量：將紅外線測溫儀和標(biāo)準(zhǔn)溫度計同時對準(zhǔn)同一物體或同一環(huán)境，確保兩者測量的是相同的溫度源。
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記錄數(shù)據(jù)：分別記錄紅外線測溫儀和標(biāo)準(zhǔn)溫度計的測量值。
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校準(zhǔn)調(diào)整：對比兩個測量值，根據(jù)差異對紅外線測溫儀進行校準(zhǔn)調(diào)整，如調(diào)整溫度偏差參數(shù)等，使紅外線測溫儀的測量值與標(biāo)準(zhǔn)溫度計的測量值盡量接近。
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溫度開關(guān)校準(zhǔn)前準(zhǔn)備
1. 標(biāo)準(zhǔn)器及配套設(shè)備
1.標(biāo)準(zhǔn)溫度源：選用干井爐或恒溫槽，溫度波動度≤±0.3℃，均勻性≤±0.5℃，確保溫場穩(wěn)定。
2.溫度測量設(shè)備：配備二等標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計或高精度數(shù)字溫度表（**大允許誤差≤±0.1℃），用于實時監(jiān)測溫度源實際值。
3.開關(guān)狀態(tài)檢測：準(zhǔn)備數(shù)字多用表或通斷測試儀（響應(yīng)時間≤10ms），用于檢測溫度開關(guān)觸點通斷狀態(tài)及動作響應(yīng)時間。
4.輔助工具：絕緣耐高溫夾具（固定溫度開關(guān)探頭）、計時器（記錄動作時間偏差）、高溫防護手套。
2. 環(huán)境條件
1.實驗室溫度（20±5）℃，相對濕度≤70%，避免氣流擾動影響溫場均勻性。
2.遠(yuǎn)離振動源及強電磁干擾設(shè)備，工作臺穩(wěn)固防振，電氣接地良好。
3.高溫校準(zhǔn)時需設(shè)置**防護區(qū)，防止人員接觸高溫部件。
3. 被校儀器檢查
1.外觀檢查：外殼無變形、破損，接線端子無氧化，標(biāo)簽（型號、動作溫度值）清晰。
2.機械性能檢查：開關(guān)動作機構(gòu)靈活無卡滯，復(fù)位彈簧無銹蝕或疲勞，觸點無燒蝕或污漬。
3.功能預(yù)測試：常溫下手動觸發(fā)開關(guān)，通斷狀態(tài)正常，觸點電阻≤0.1Ω（通過多用表測量）。
4.校準(zhǔn)點設(shè)置：根據(jù)規(guī)格書預(yù)設(shè)至少3個動作溫度點，升溫/降溫速率≤1℃/min，避免過沖。
溫度數(shù)據(jù)采集儀基本結(jié)構(gòu)與**組件
溫度數(shù)據(jù)采集儀通常由以下模塊構(gòu)成：
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溫度傳感器：熱電偶（K/J/T型）、熱電阻（PT100、PT1000）、熱敏電阻（NTC/PTC）、紅外傳感器等。
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信號調(diào)理電路：包括放大、濾波、冷端補償（針對熱電偶）、線性化處理等。
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模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）：將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，決定分辨率和采樣率。
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微處理器（MCU）：控制采集時序、數(shù)據(jù)處理、存儲及通訊。
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存儲模塊：內(nèi)置存儲器（SD卡、Flash）或外接存儲設(shè)備。
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通訊接口：USB、RS-485、Wi-Fi、藍(lán)牙、4G等（用于數(shù)據(jù)傳輸）。
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電源管理：電池或外部供電，支持低功耗模式。
雙金屬溫度計的校準(zhǔn)前準(zhǔn)備
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標(biāo)準(zhǔn)器選擇：選用精度等級至少比被校準(zhǔn)雙金屬溫度計高一級的標(biāo)準(zhǔn)溫度計，如二等標(biāo)準(zhǔn)溫度計或高精度的鉑電阻溫度計等，標(biāo)準(zhǔn)溫度計的測量范圍應(yīng)覆蓋雙金屬溫度計的測量范圍。
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輔助設(shè)備：準(zhǔn)備恒溫槽，要求其溫度均勻性和穩(wěn)定性良好，溫度波動應(yīng)在 ±0.1℃以內(nèi)；還需準(zhǔn)備用于固定溫度計的夾具、攪拌器等輔助工具，攪拌器用于使恒溫槽內(nèi)溫度均勻。
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環(huán)境條件：校準(zhǔn)環(huán)境溫度應(yīng)保持在（20±5）℃，相對濕度不大于 80%，周圍無強磁場、無振動，且無明顯的空氣對流。
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被校溫度計檢查：檢查雙金屬溫度計的外觀，表盤應(yīng)清晰、無破損，指針能靈活轉(zhuǎn)動，無卡滯現(xiàn)象，雙金屬溫度計的感溫元件應(yīng)無變形、損傷等缺陷。
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工作用輻射溫度計的理論基礎(chǔ)：黑體輻射定律
所有溫度高于***零度（-273.15℃）的物體均會向外輻射電磁波，其輻射特性遵循以下物理定律：
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普朗克定律（Planck's Law）：描述黑體輻射能量按波長和溫度的分布規(guī)律。
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斯特藩-玻爾茲曼定律（Stefan-Boltzmann Law）：黑體總輻射功率與溫度的四次方成正比（P=εσT4，其中ε為發(fā)射率，σ為斯特藩-玻爾茲曼常數(shù)）。
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維恩位移定律（Wien's Displacement Law）：峰值輻射波長與溫度成反比（λ
