雙劍合璧，賦能全產(chǎn)業(yè)鏈從PCB絕緣性能檢測(cè)到動(dòng)力電池連接可靠性驗(yàn)證，從科研級(jí)精密測(cè)量到量產(chǎn)線大規(guī)模篩查，維柯SIR/CAF與TCT產(chǎn)品以“高阻高敏、低阻精細(xì)”的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，搭配模塊化擴(kuò)展、軟件定制化開發(fā)（支持ERP對(duì)接）及7×24小時(shí)售后保障，已服務(wù)富士康、清華大學(xué)、通標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等50+頭部客戶。昆山鼎鑫電子采用256通道SIR/CAF系統(tǒng)完成汽車電子PCB的1000V高壓絕緣測(cè)試，3.5米耐高溫特氟龍線纜在125℃高溫箱內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)行500小時(shí)，數(shù)據(jù)完整率達(dá)99.9%；聯(lián)華檢測(cè)使用TCT系統(tǒng)同步測(cè)試200組新能源汽車接觸器導(dǎo)通電阻，0.1μΩ分辨率精細(xì)識(shí)別批次性工藝偏差，幫助客戶縮短新品驗(yàn)證周期40%。選擇維柯，即是選擇“全精度覆蓋、全生命周期可靠”的測(cè)控伙伴。所有設(shè)備可聯(lián)網(wǎng) ， 實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程故障診斷與維護(hù)。廣州離子遷移電阻測(cè)試分析

在電阻測(cè)試領(lǐng)域，不同的客戶和測(cè)試場(chǎng)景往往具有不同的測(cè)試需求。維柯深知這一點(diǎn)，因此提供了定制化的解決方案，以滿足客戶的特殊測(cè)試需求。維柯的工程師團(tuán)隊(duì)具備豐富的專業(yè)知識(shí)和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，能夠根據(jù)客戶的具體需求，提供定制化的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方案。無論是對(duì)于特殊材料的測(cè)試，還是對(duì)于特定測(cè)試條件的設(shè)置，維柯都能夠提供滿足客戶需求的解決方案。此外，維柯還提供了靈活的測(cè)試參數(shù)設(shè)置和強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理功能，使得客戶能夠根據(jù)自己的需求進(jìn)行自定義測(cè)試和分析。這進(jìn)一步增強(qiáng)了維柯設(shè)備的靈活性和適用性，滿足了不同客戶的多樣化測(cè)試需求廣州離子遷移電阻測(cè)試價(jià)格當(dāng)個(gè)別通道出現(xiàn)問題時(shí)，只需更換該模塊，不影響其他模塊的正常使用。

在電子制造業(yè)中，產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性是企業(yè)生存和發(fā)展的基石。而焊點(diǎn)作為電子產(chǎn)品中連接各個(gè)元器件的關(guān)鍵部位，其可靠性直接關(guān)系到整個(gè)產(chǎn)品的性能和穩(wěn)定性。廣州維柯的 GWLR - 256 多通道 RTC 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)，憑借其高精度、高效率的測(cè)試能力，成為了電子制造業(yè)中焊點(diǎn)可靠性驗(yàn)證的不可或缺的關(guān)鍵工具。在 PCB 焊接和 FPC 組裝等關(guān)鍵生產(chǎn)環(huán)節(jié)中，焊點(diǎn)電阻異常是導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要隱患之一。微小的焊點(diǎn)電阻變化，可能會(huì)引發(fā)電路信號(hào)傳輸不穩(wěn)定、發(fā)熱異常甚至短路等嚴(yán)重問題。因此，準(zhǔn)確檢測(cè)焊點(diǎn)電阻并確保其在合理范圍內(nèi)，對(duì)于保證電子產(chǎn)品的質(zhì)量至關(guān)重要。

在現(xiàn)代制造業(yè)中，提高產(chǎn)線測(cè)試效率對(duì)于企業(yè)的成本控制、生產(chǎn)周期優(yōu)化以及市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力提升都具有至關(guān)重要的意義。GWLR - 256 多通道 RTC 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)憑借其創(chuàng)新的設(shè)計(jì)和***的性能，為產(chǎn)線測(cè)試效率的提升帶來了***的積極影響，實(shí)現(xiàn)了從傳統(tǒng)測(cè)試模式到高效自動(dòng)化測(cè)試的重大變革。傳統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備在進(jìn)行多通道導(dǎo)通電阻測(cè)試時(shí)，普遍存在效率低下的問題。以單通道測(cè)試時(shí)間為例，通?！? 秒，若要完成 256 通道的全測(cè)，所需時(shí)間將超過 4 分鐘。這樣的測(cè)試速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)無法滿足現(xiàn)代大規(guī)模生產(chǎn)線上快速檢測(cè)的需求。而 GWLR - 256 通過一系列精心設(shè)計(jì)的功能，成功打破了這一效率瓶頸。高密度互連（ HDI）、高頻高速PCB等新興 技術(shù)對(duì)可靠性要求更高 ，SIR/CAF/RTC為新 材料如高頻基材和新工藝。

有一個(gè)輕微的偏差，因?yàn)榘鍥]有固定，并有不同的方向相對(duì)于氣流確保在測(cè)試期間SIR測(cè)試模塊上沒有明顯的冷凝現(xiàn)象。根據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn)，通過測(cè)試的模塊，在整個(gè)測(cè)試過程中，其電阻都高于108Ω。測(cè)試結(jié)果將根據(jù)這個(gè)限定值判定為通過或失敗。相關(guān)研究的目的是描述不同回流曲線對(duì)助焊劑殘留物的影響。在以前的工作中，據(jù)說曾經(jīng)觀察到與回流工藝產(chǎn)出的組件相比，使用電烙鐵加熱和更快冷卻速度的返工工位完成的組件顯示出更高的離子殘留物水平。SIR和局部萃取的結(jié)果是通過或失敗。判定標(biāo)準(zhǔn)分別基于電路電阻率和萃取液電阻率。為了便于參考，附錄中包含了詳細(xì)的結(jié)果。如表1所示，通過被編碼為綠色，失敗被編碼為橙色。結(jié)果顯示了一個(gè)清晰的定義：即所有未清洗的測(cè)試模塊都沒有通過測(cè)試，所有清洗過的測(cè)試模塊都通過了測(cè)試。熱沖擊模式 可收錄每次循環(huán)中的低溫區(qū)/高溫區(qū)中各1次數(shù)據(jù)。廣州離子遷移電阻測(cè)試分析

通過模擬極端環(huán)境，提前暴露潛在失效風(fēng)險(xiǎn)。廣州離子遷移電阻測(cè)試分析

在精密電子制造業(yè)的舞臺(tái)上，每一塊PCBA（印刷電路板組裝）的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展，PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升，如何有效控制生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的污染物，確保電路板的長(zhǎng)期可靠性，成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，正是這一挑戰(zhàn)的解決方案?！旧疃榷床?，精確監(jiān)測(cè)】廣州維柯多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn)，專為PCBA的可靠性評(píng)估而設(shè)計(jì)，它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控SIR（表面絕緣電阻）和CAF（導(dǎo)電陽極絲）的變化，精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象廣州離子遷移電阻測(cè)試分析