如何保證設(shè)備在以年為單位的典型使用壽命內(nèi)可靠，而不會導(dǎo)致無法接受的生產(chǎn)延遲？為了解決這個(gè)問題，工程師們提出了可靠性測試的概念。可靠性測試通過以更高的溫度、電壓和其他環(huán)境因素的形式向被測設(shè)備(DUT)施加更大的應(yīng)力，從而在功能上加速老化過程。在這個(gè)“降額”過程的不同階段對芯片運(yùn)行的統(tǒng)計(jì)分析揭示了設(shè)計(jì)中的潛在弱點(diǎn)。通過在DUT進(jìn)入批量生產(chǎn)之前進(jìn)行各種可靠性測試，制造商可以降低風(fēng)險(xiǎn)。它們降低了發(fā)布導(dǎo)致大量現(xiàn)場維修甚至召回的有缺陷產(chǎn)品的可能性。較終，可靠性測試增加了公司從新設(shè)計(jì)中獲利的機(jī)會，并有助于促進(jìn)行業(yè)的更多創(chuàng)新。常用可靠性試驗(yàn)分類有哪些？上海GBT 10125可靠性測試

HALT 是一種通過讓被測物承受不同的應(yīng)力、進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計(jì)上的缺限，以及潛在弱點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動，高低溫，溫度循環(huán)，電力開關(guān)循環(huán)，電壓邊際及頻率邊際測試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段，能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)。包含以下內(nèi)容： a、逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障； b、采取臨時(shí)措施，修正產(chǎn)品的失效或故障； c、繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障，并再次加以修正； d、重復(fù)以上應(yīng)力-失效-修正的步驟； e、找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。 HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，以確保所有在HALT 中找到的改進(jìn)措施能夠得到實(shí)施。HASS 包含如下內(nèi)容： a、進(jìn)行預(yù)篩選、剔除可能發(fā)展為明顯缺點(diǎn)的隱性缺點(diǎn)； b、進(jìn)行探測篩選、找出明顯缺點(diǎn)； c、故障分析；改進(jìn)措施。上海電子產(chǎn)品可靠性測試報(bào)告可靠性測試的項(xiàng)目有很多常用的檢驗(yàn)項(xiàng)目。

上海天梯檢測技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別： 試驗(yàn)終止判據(jù)： 環(huán)境試驗(yàn)不允許出現(xiàn)故障，產(chǎn)品一量出現(xiàn)故障，就認(rèn)為通不過試驗(yàn)，試驗(yàn)即告停止并進(jìn)行故障分析，采取糾正措施，改進(jìn)設(shè)計(jì)。這是環(huán)境試驗(yàn)的TAAF過程。而可靠性試驗(yàn)是以一定的統(tǒng)計(jì)概率表示結(jié)果的試驗(yàn)，根據(jù)合同要求的可靠性定量指標(biāo)和所選統(tǒng)計(jì)方案確定允許出現(xiàn)的故障數(shù)。試驗(yàn)要一直進(jìn)行到達(dá)規(guī)定的總臺時(shí)數(shù)才能停止。整個(gè)試驗(yàn)過程中應(yīng)建立故障報(bào)告，分析和糾正措施系統(tǒng)(FRACAS)

上海天梯檢測技術(shù)有限公司較新檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 5、振動試驗(yàn)： 振動試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi: 振動 混合模式 只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動（數(shù)字控制）和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006。只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg。 6、溫度變化試驗(yàn)： 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)： 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 8、跌落試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 9、機(jī)械沖擊試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊 10、碰撞試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞可靠性測試可以是實(shí)驗(yàn)室內(nèi)的試驗(yàn)。

上海天梯檢測技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?可靠性是與電子工業(yè)的發(fā)展密切相關(guān)的，其重要性可從電子產(chǎn)品發(fā)展的三個(gè)特點(diǎn)來加以說明。 首先，電子產(chǎn)品的復(fù)雜程度在不斷增加。人們較早使用的礦石收音機(jī)是非常簡單的，隨之先后出現(xiàn)了各種類型的收音機(jī)、錄音機(jī)、錄放相機(jī)、通訊機(jī)、雷達(dá)、制導(dǎo)系統(tǒng)、電子計(jì)算機(jī)以及宇航控制設(shè)備，復(fù)雜程度不斷地增長。其次，電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷。從實(shí)驗(yàn)室到野外，從熱帶到寒帶，從陸地到深海，從高空到宇宙空間，經(jīng)受著不同的環(huán)境條件，除溫度、濕度影響外，海水、鹽霧、沖擊、振動、宇宙粒子、各種輻射等對電子元器件的影響，導(dǎo)致產(chǎn)品失效的可能性增大。 第三，電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從一代電子管產(chǎn)品進(jìn)入第二代晶體管，現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路進(jìn)入到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，電子產(chǎn)品正朝小型化、微型化方向發(fā)展，其結(jié)果導(dǎo)致裝置密度的不斷增加，從而使內(nèi)部溫升增高，散熱條件惡化。在產(chǎn)品的整個(gè)生命周期當(dāng)中，都離不開可靠性測試。上海GBT 10125可靠性測試

可靠性測試有什么意義呢？上海GBT 10125可靠性測試

產(chǎn)品存儲、工作的環(huán)境都帶有一定的溫度、濕度，而且有些環(huán)境的溫度、濕度比較高。產(chǎn)品長時(shí)間處于這種較高的溫濕度環(huán)境下，性能、壽命會受到一定的影響。所以需要對產(chǎn)品進(jìn)行恒溫恒濕測試，以了解產(chǎn)品這方面的性能，如果達(dá)不到要求，就需要對產(chǎn)品進(jìn)行相應(yīng)的改進(jìn)。所以，可靠性恒溫恒濕測試的重要性可想而知。恒溫恒濕測試是對產(chǎn)品進(jìn)行的一種環(huán)境可靠性測試，即模擬產(chǎn)品存儲、工作的溫濕度環(huán)境，檢驗(yàn)產(chǎn)品在此環(huán)境下一段時(shí)間后所受到的影響是否在可接受的范圍內(nèi)。恒溫恒濕一般為高溫高濕。上海GBT 10125可靠性測試

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